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非接觸厚度電阻率測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間:2018/5/21點(diǎn)擊次數(shù):1313

非接觸厚度電阻率測(cè)試儀型號(hào):JXNRT1

我司產(chǎn)品有:1)便攜式電阻率型號(hào)測(cè)試儀、2)硅材料型號(hào)測(cè)試儀、3)硅材料重?fù)椒诌x儀、4)硅材料電阻率測(cè)試儀、5) 高清晰度電子目鏡。其產(chǎn)品定位于太陽(yáng)能單晶(多晶)生產(chǎn)廠家,為硅材料的分選、測(cè)試提供專(zhuān)業(yè)的解決方案! 
1.厚度測(cè)試范圍150~600um 
2.厚度測(cè)試精度 1um 
3.電阻率測(cè)量范圍 0.001~50歐姆厘米

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